技术编号：6068383
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种芯片自动测试装置，所述装置包括进料台，适于将多颗待测芯片一次性送入导轨；导轨，第一端与所述进料台连接，适于接收所述进料台一次性送入的多颗待测芯片，第二端与出料台连接，适于将经过测试的芯片输出；阻挡部件，固定在所述导轨的入口，适于阻挡所述多颗待测芯片在重力作用下的滑动；控制器，适于控制所述阻挡装置移动以阻挡或释放所述多颗待测芯片；测试台，与所述导轨连接，适于对所述多颗待测芯片进行测试；出料台，适于接收经过所述测试台测试的多颗芯片，根据测试结果，将所述经过...
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