技术编号:6074871
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型提供了一种就地高纯锗γ谱仪角响应校准刻度装置,其特征在于包括探测器定位组件,贴合就地高纯锗γ谱仪的探测器而放置,用于固定探测器的位置;刻度源放置轨道,刻度源放置轨道为0~90°的弧形,在刻度源放置轨道上,在光子入射角θ=0°和θ=90°之间的位置上每隔一定间隔设置一个刻度源放置孔;以及刻度源放置轨道定位组件,紧贴刻度源放置轨道,用于固定刻度源放置轨道的位置。根据本实用新型的技术方案,能够简单、准确、高效地实现就地高纯锗γ谱仪角响应校准刻度。专利说...
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