技术编号：6080368
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子电路的测试。美国专利No.5606566说明了一种使用IEEE1149.1测试标准的电路测试技术。该电路包括具有功能互连的多个集成电路，以在正常操作过程中在集成电路之间传送信号。通过使测试信号进入电路并观察电路如何响应测试数据来测试电路。例如，通过在集成电路的输出端处施加测试信号以及观察相应的响应信号是否到达集成电路的输入端来测试集成电路之间的互连。如US5606566中所述的IEEE1149.1标准限定了用于使测试信号进入电路以及读出来自电...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。