技术编号：6080970
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种取样装置，特别是涉及一种含钥物料取样装置。背景技术目前，通用的取样器在取原料钥精矿或者氧化钥的过程中，经常存在取样深度不够或者取样不够均匀，无法将颗粒物取上来的情况，以致于造成分析误差。如何研发一种取样均匀且能达到取样深度的取样装置，是相关领域技术人员亟待解决的技术问题。实用新型内容本实用新型的目的在于克服上述现有技术中的不足，提供一种含钥物料取样装置。该含钥物料取样装置取样均匀且能达到不同的取样深度，其结构简单、使用方便、生产成本低，便...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。