技术编号:6081593
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及检测金属杂质含量的方法,尤其涉及一种应用X射线荧光光谱法检测金属硅杂质含量的方法。背景技术X射线荧光光谱分析法是对各种材料进行元素分析的一种现代化的通用分析方法,广泛的应用于环保、地质、冶金、水泥、检验检疫等部门,具有精度高、测量速度快、重现性好等特点。应用X射线荧光光谱仪主要是进行定量分析,通过测量制备好的样片得出样品中各元素含量结果。样片的制备主要为熔融玻璃片法制样和压片两种,样片制备的好坏直接影响到测量结果的准确性。 检验检疫部门、海关、科...
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