技术编号:6082013
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种分析具有红外吸收光谱的样品材料的局部分子结构分析仪,更具体地说,它涉及一种根据红外吸收光谱强度进行局部分子结构分析的分析仪。红外光谱分析就是分析局部分子结构。这种分析是靠由红外摄谱仪拍摄的红外吸收光谱峰的位置(波数)实现的,因此分析与该波数对应的局部分子结构可以知道该分子是否有这种结构。通常取出吸收峰波数信息。然而波数信息的数据量有限,以致不能改善分析精度。再有,把具有相同局部结构的材料的红外吸收光谱加到同一图谱上,得到参考振动的波数信息数据...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。