技术编号:6082745
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于力学领域中的一种轴向应力测量仪器。轴向应力的测量仪器目前应用较多的有采用光测力学的方法和电测力学的方法。光测力学的方法是根据被测的试件的各种条件,制成可以透光的模型,通过光测方法来进行轴向应力的测量,这种方法的缺点是设备复杂,且只能测量实体试样的模型;电测力学的方法,即在被测试件的表面贴上电阻应变片,通过对应变片变化的测量来确定试件的应力,这种方法的缺点是仅能测量试件的表面应变,再根据虎克定律由变量推算出表面应力,且由于应变片的粘结剂会老化,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。