技术编号：6083481
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请是申请日为1987年3月26日，申请流水号07/030，346，07/031，049和申请日为1987年4月8日，申请流水号07/035，859三份待审查专利申请的后续申请。本发明一般地说涉及直线和角度测量用电容型测试装置，更具体地说，涉及用于进行位置绝对测量、电极排列有所改进的电容型测试传感器。进行直线和角度测量的现有的许多电容型测试装置有两个支承构件或刻度尺，在它上面分别安装了不连续的电容性耦合电极阵列，两个支承构件或刻度尺可以彼此相对位移，两个...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。