技术编号：6084592
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属半导体器件检测。对集成电路性能的检测，现有的方法是用专用测试仪器进行测定。这种专用测试仪只能测试单种(类)集成电路，且造价昂贵，结构复杂。如国营韶光电工厂设计生产的MTS－3集成电路测试系统，即是如此。针对现有测试仪器，设计了双列集成电路测试仪，即通用集成电路测试仪。这种测试仪的原理是对于相同的集成块，如果处在相同的工作条件下它们的相同引脚上应有相同的特征值。其测试方法是将被测集成电路与功能和特性均在规定指标范围里的标准集成电路进行比较，通过运...
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