技术编号:6084958
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于一种用于测定半导体元件直流耐压的新型自动测试装置。一般公知的半导体元件耐压测试设备,如晶体管特性图示仪,作元件耐压测试一般只能达到一千伏以下;以人工调控测试电压,用图形曲线间接比较得出被测元件的击穿电压,测试速度慢、精度低、操作复杂;图示仪属于大型仪器,较笨重,且价格昂贵。其它一些半导体直流耐压专用测试设备也多为人工调控测试电压,给使用者带来极大不便。本发明的目的在于设计一种新型半体元件直流耐压测试设备,使之自动调控测试电压,测试精度较高,小巧轻...
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