技术编号：6085556
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种为了试验IC器件等电子部件可处理被试验电子部件的电子部件处理装置及其所使用的托盘和插件，特别是涉及可减少被试验电子部件的错误接触、外部端子的异常变形、接触部的破损等的发生的插件、托盘、及电子部件处理装置。背景技术 在IC器件等电子部件的制造工序中，需要对最终制造的电子部件进行试验的试验装置。在这样的试验装置中，由被称为处理装置的电子部件处理装置将多个IC器件收容于托盘进行输送，使各IC器件与测试头进行电接触，在试验用主装置(测试器)进行试验。...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。