技术编号:6086820
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于在电子元件中自测试参考电压的方法和电路装置。在生产过程中,以及当在野外操作时,需要对集成电路进行测试以确保它们正确运行。由于使用外部测试装置存在许多缺点,假定必须与每个芯片单独建立接触,并且在运行条件下随后也不能对芯片进行测试,因此在芯片自身中建立测试电路已成为惯例。这种测试方法以名为BIST(嵌入式自测试)的方法为公众所知。BIST为芯片给出一种用于识别故障的闭环程序。该电路常配有内部调节的电压源,该电压源被用作与属于该电路的集成电路内...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。