技术编号:6089362
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种透射电镜用试样的制备方法,特别是涉及。背景技术研究材料的微观形貌、结构,透射电子显微镜是重要的、有力的研究手段之一,但是在透射电镜上观察样品的前提之一是制备出适合电镜观察的样品。透射电镜观察到的样品的图像质量以及其它样品信息与试样厚度息息相关,而电子的穿透能力弱,所以一般要求透射电镜样品厚度非常薄,通常试样厚度在IOOnm以下,高分辨观察时甚至要求样品厚度在20nm乃至IOnm以下,这样就给透射电镜制样工作带来了很大的难度。对于透射电镜分析,...
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