技术编号:6090264
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种对电子元件进行测试的测试装置。对认可参照文献的指定国,可将下述申请中所记述的内容利用参照加入本申请中,作为本申请记述的一部分。日本专利早期公开的特愿2003-322094,申请日2003年9月12日。背景技术 在公知技术中,对半导体电路等电子元件进行测试的测试装置,通过在电子元件上施加一定的图案(pattern)而进行测试。测试装置包括向电子元件施加预先所确定的图案和测试速率等的测试模块、用于控制测试模块向电子元件施加图案等的时序的时序控制模...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。