技术编号:6090648
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及比较器电路、校准设备、测试设备、和校准方法。本发明特别涉及用于校准施加到测试中的装置的测试信号的输出定时的校准设备;测试设备;校准方法;和用于实现前述装置和方法的比较器电路。背景技术 测试设备已传统地用于在半导体装置测试的情况下向测试中的装置施加测试信号。当该测试设备所测试的装置被提供有多个端子时,有时必须以一致的定时向多个端子中的每一个施加测试信号。图1示出了根据本发明的背景技术的测试设备10的结构的例子。该测试设备10通过将测试信号施加到DU...
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