技术编号：6091957
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种集成电路电性能的测试装置。IC测试仪与编程器主要适用各种逻辑器件、可编程器及存贮器等的测试与编程。《一种智能数字集成电路测试仪》(史燕，范俊波。电测与仪表，1990.217～18)介绍了一种采用单片微型计算机的智能数字集成电路测试仪的系统硬件结构及软件设计，由MCS－51系列的8位单片机8031、程序存储器、显示电路、键盘及测试插座等组成。其监控程序、处理程序及数据库都固化在8K×8的EPROM(2764)中，少量的数据交换在8031片内...
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