技术编号：6095388
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体器件分检装置，更具体地说，所涉及的是一种用于快速地将半导体器件分检成多个组的分检装置。目前常用的做法是在一个半导体晶片上采用一种工艺过程制成多个半导体电路，并将它们分成多个半导体芯片。将上述半导体芯片密封在各个封装内，形成多个半导体器件。尽管上述工艺过程是标准的，并经过严格的控制，但是半导体集成电路的器件特性却是不一致的，它具有离散性。尽管同一批半导体器件的特性不是相同的，但是绝大多数半导体器件都可以根据用户的要求以分成高等级产品或低等...
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