技术编号：6095634
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明一般地涉及自动检测仪，特别是涉及用于把自动检测仪连接到对检测中的半导体器件进行定位的器械上的装置。在制造半导体器件的过程中，需要在各个阶段对制造中的半导体器件进行检测。制造者从获得显著的经济利益出发，需要尽可能早的检测出并报废那些不合格的半导体器件。例如，通常是先把很多半导体集成电路制作在一块大的硅片上，然后切割该硅片，将这些集成电路分成管芯。把这些管芯装到座里，焊接连接丝，以便使管芯同从座中伸出的引线相连，最后用塑料或其它材料封装该座，形成最终的产...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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