技术编号:6098460
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于集成电路计算机辅助设计和计算机辅助测试,具体涉及一种在系统级芯片SOC(system-on-chip)测试过程中有效地避免出现热点和均匀测试热量分布的方法。背景技术随着半导体制造工艺发展以及对于单个芯片功能要求的提高,SOC的需求已越来越大。SOC在单个芯片上实现了整个系统的功能,它可能集成微处理器核、DSP核、存储器核、ASIC核、数模混合电路、RF电路等。SOC的设计是基于IP核(Core)的设计,缩短了设计的时间,但是却增大了测试难度以及测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。