技术编号：6098918
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种量测系统及方法，尤其涉及一种。背景技术一些电子产品在制造过程中，为确保制造出来的产品满足某些特定的需求，常常需要采用标尺、探棒等量测工具进行表面平整度、直线度等参数的量测，并根据量测的参数值是否在一个容许的值范围内，来判断制造的产品是否为合格产品。如图1所示，一量测仪器10包括一量测装置104，及一控制该量测装置104量测的控制终端100(例如示波器)。量测装置104量测被测物体12(例如一光学读取头载台)所得的参数值通过一数据线102传输至...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。