技术编号：6099114
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量物体三维形貌的仪器，具体地说是一种回转式扫描测量仪，其利用激光线进行扫描并通过数控回转台的转动来测量复杂物体全貌的仪器，其属于光机电一体化 背景技术 现有技术中，传统的用于测量物体三维形貌的设备主要有两种，一种是三坐标测量机。其是以接触式测量方法。该方法测量精度高，但测量效率很低。这是因为安装在Z轴上的触发测头(接触式)要与工件接触，该测头和工件接触一次完成对一个点的测量，而这个过程包括与工件接近—碰撞—回退；这三个阶段，至少需要1--...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。