技术编号:6099671
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。相关申请交叉参考根据35 USC§119,本申请基于并要求2004年2月26日提交的、日本专利申请号2004-51016的优先权利益,其全部内容通过引用而结合于此。背景技术本发明涉及工作模式设置电路,尤其涉及半导体集成电路中紧接着电源接通之后设置工作模式的电路。半导体集成电路一般具有专用于测试的集成电路,并包括与正常工作模式不同的测试模式,以便于测试。然而,由于测试模式与正常工作模式不同,用户不在该测试模式中操作半导体集成电路。因此,如果测试模式由于某种原...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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