技术编号:6100628
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明关于一种用以检测光学元件品质的检测方法及装置,尤指一种用以检测一光学元件中是否留存有阻挡光程路径的阻碍物的光学元件品质的检测方法及装置。背景技术 随着消费性数字电子产品的流行,于所述产品上附加照相功能,已是目前的主要发展趋势之一。但是,因数字电子产品的整体体积,通常会基于成本与便利性的考虑而有所限制,如此一来,与其搭配的相机模块的整体体积当然更加受限。这样,应用其中的光学镜头组的整体体积,亦需跟着一起变小。此等结果,对于遂行判断所述小型光学镜头组的光...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。