技术编号:6101366
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种形状检测装置,尤指一种可于一定温度环境下测量待测样品几何公差和尺寸变化的热变形测试装置。背景技术热变形测试装置广泛应用于检测领域,以完成不同温度环境下待测样品几何公差和尺寸变化的动态检测,其通常包括一个温度可调的温度控制箱和一个可发射入射光束的光学探头。实际检测过程中,温度控制箱通过温度控制单元和压缩气体控制单元执行计算机软件设定的温度升降曲线,如SMT(SurfaceMounting Technology)制程温度曲线,以模拟待测样品温度特...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。