技术编号:6101442
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种磁性材料的测试技术,更确切讲涉及一种磁性薄膜材料面内单轴各向异性测试的方法。背景技术 磁性材料的应用十分广泛,大到各种永磁体、软磁磁芯,小到硬盘中使用的磁头和磁记录介质,磁性材料的使用量正在日益增加。同时,随着器件小型化的发展,具有良好性质的磁性薄膜材料,受到了广大磁性器件制造商与磁性材料研究者的青睐。而各向异性,在决定磁性薄膜材料的性质方面,具有非常重要的地位。例如,众所周知,目前硬盘的容量大小决定于磁记录薄膜介质中颗粒尺寸的限制,为了提高...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。