技术编号：6101729
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及数据检测，更具体地说，涉及一种对经位宽转换电路位宽转换后的数据进行检测的装置及其方法。背景技术 随着信号传输速率的提高，为保证信号传输质量，单板与芯片之间越来越多地采用了低电压差分信号(Low Voltage Differential Signal，简称LVDS)等串行数据接口。然而，为了保证数据处理的可靠性，芯片内部需要采用并行数据处理方式。因此，通常在芯片内部接口处设置串并/并串位宽转换电路(Serial Deserial Circuit，简...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。