技术编号:6101757
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种光学测量系统,特别是关于一种光学位移测量系统。背景技术近年来,随着电子与汽车零组件等产品的小型化,制造上述产品的模具尺寸精度要求越来越高,且加工技术也越来越精密,因此微小位移测量或振动测量技术的重要性日趋增加。现有技术一般利用激光三角法来测量物体的微小位移。请参阅图1,该光学测量系统10一般包括一激光器11与一光电敏感元件15,该激光器11用来向待测物体18表面发射激光111,该光电敏感元件15用来接收被待测物体18反射的激光112,其具有...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。