技术编号:6102256
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于集成电路(IC)组件的测试站,尤其涉及在测试站IC组件测试期间用于避免IC组件由于非期望DC瞬态的发生而产生过电应力(EOS)损害的自动保护系统和方法。背景技术 在集成电路(IC)组件的制造期间,会在各测试站对此IC组件进行测试以便决定此IC组件的各种性能特性。参考图1,其为测试站范例之一的老化测试站100,用于决定IC组件的老化寿命,如具集成电路制造技术者所已知的。老化寿命为当将IC组件从室温加热到,举例而言,大约125℃或大约150℃时此...
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