技术编号:6102362
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于在一个测试信号发生器和一个处理装置的测试卡之间同时连接多个电触点的插塞连接的第一插塞连接模块,该处理装置将检验的元件输送给测试卡。此外本发明还涉及这种插塞连接的一个第二插塞连接模块。背景技术 测试信号发生器、测试卡和处理装置在检验晶片和集成电路时被使用。经常也被称为“测试头”的测试信号发生器能够提供多个不同的信号用于检验。测试信号发生器被与测试卡相连,测试卡本身由传送装置周期地装入待检验的部件并且必要时还提供在测试装置与待检验的元件之间交换的...
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