技术编号：6102918
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种由周期性任意波形激发测量荧光寿命的方法及装置，本发明涉及一种测量荧光寿命的方法，尤其是激发光源是周期性的任意波形就能够测量得到荧光寿命。属于测量。背景技术 目前，普遍使用脉宽极窄的脉冲光源激发荧光样品，测量发光随时间的衰减来得到荧光寿命。这种时域测量技术通常要求光脉冲持续时间远小于荧光寿命，当光脉冲持续时间和荧光寿命同一数量级时，需要解卷积得到荧光寿命，设备比较复杂。由于对脉冲产生装置的要求非常高，其要能够产生比荧光寿命相当或者更短的脉冲，而...
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