技术编号:6103513
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光和辐射测量,具体为一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统。背景技术光辐射度的测量方法一般可分为分光式和积分式两种。使用光谱分析仪测量光源的光谱功率分布,从而得到光度量的分光式方法,适用范围广且精度高,但这种方法存在的一个普遍的问题就是光谱分析仪的响应线性范围一般都较窄。使用带滤色片的探头直接测量光度量的积分式方法,比分光法简单易行,而且由于探头的响应线性范围一般都较宽,所以用这种方法可以实现很宽的光度测量范围。但精确的积分式测量对于探头滤...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。