技术编号:6104563
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种非接触式应用芯片测试仪的测试接口,特别是涉及一种非接触式应用芯片的多通道测试仪芯片测试接口。背景技术伴随着IT业的日新月异,微电子技术的快速发展,对智能卡芯片的需求越来越大,同时,对于芯片的生产测试,也提出了更高的要求。非接触智能芯片在最后的应用中,是通过电磁场耦合的方式,使得芯片获得能量而工作,芯片接收天线两端是完全差分的信号,因此为了模拟实际的工作情况,需要采用完全差分的信号提供芯片测试的射频信号。一般差分信号都是通过电阻和电容串连方...
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