技术编号:6105583
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于测试半导体集成电路,比如大规模集成电路(LSI)的半导体测试系统,更具体地说,涉及一种半导体测试系统上的电源电流测量单元,它能够快速、准确地测量被测器件的电源电流。本发明的电源电流测量单元更有利地适用于测量一个CMOS集成电路的电源电流IDD。本发明的电源电流测量单元,在半导体测试系统中被用来测试半导体集成电路比如LSI(此后也称之为“被测器件”)。这样的一个半导体测试系统主要对被测器件进行功能测试,它也有测试DC参数的功能,在这种测试中...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。