技术编号:6108518
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于对半导体元件等电子元件所输出的输出信号的波形加以测定的测定装置、测定方法、及试验装置。对于由参照可并入为参考文献有所指定的申请国,可参照下述专利申请案所记载的内容,将其内容并入本案参考做为本案记载的一部分。日本专利特愿2004-029751申请日期2004年2月5日背景技术在公知技术中,为加以判定半导体元件等的电子元件的良否,使用加以测定电子元件的输出信号波形的测定装置。在输出信号的波形测定中,可举例如信号的起伏变动(jitter)的测定,或...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。