技术编号：6108611
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试电路和方法，并且具体地，涉及一种用于测试具有一个或多个分层核心的测试系统芯片的测试电路和方法。背景技术 为了使设计时间最小化，可重用核心逐渐增加地用于大型和复杂系统芯片(SOC)的设计。核心是被预先设计和预先验证的设计模块，它们通常由不同的公司提供。这些核心的例子是嵌入的存储器、模拟块、CPU、DSP和用户定义的逻辑块。基于核心的SOC的测试最好是以基于核心的方式完成。通常，核心被深深地嵌入在SOC中并且不是所有的核心都直接可从芯片引脚访...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。