技术编号:6109078
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及自动测试设备(ATE)的领域。更具体地,本发明涉及一种用于支持开放架构测试系统中的校准和/或诊断的方法及系统。背景技术 芯片上系统(SOC)器件的增加的复杂度及同时对芯片测试成本减小的要求已经迫使集成电路(IC)制造者和测试设备厂商都在重新考虑应当如何执行IC测试。根据工业研究,在没有重新设计的情况下,测试设备的预计成本在不久的将来将继续大幅上升。测试设备的高成本的主要原因是传统测试设备架构的专有性质。每个测试设备制造者具有许多测试设备平台,这些...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。