样品的质量分析方法和装置的制作方法技术资料下载

技术编号:6109514

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背景技术本发明涉及一阵列样品质量特性的同时测量。更具体地,本发明涉及在微克至克范围内、以及在更高或更低的范围内测定一阵列样品的质量。实验室规模的重力测量已经受到相对笨重的设备和低效率的测量速度的阻碍。需要更有效的监控并记录大量材料的质量的方法,以评测候选物性能和/或筛选和选择用于进一步开发的最佳候选物。用于催化剂和吸附剂之类用途的材料的最优化通常要求尽可能快速地表征大量此类材料样品。这种表征的分析技术必须又快又精确,以处理大量与最优化有关的数据。并行而不是...
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