技术编号:6109618
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试半导体器件的测试设备和方法,并且尤其涉及一种测量半导体模块的保证功率损耗的测试装置,其中所述模块不需要具有用于功率损耗测试的板载电容。背景技术 当前,为了在半导体模块上执行功率损耗测试,必须在封装中包括两个大电容。这对于用户没有价值,而是仅用于功率损耗测试。集成电源制造商仅能通过使用复杂的测试流程和板载电容才能确保其数据单上的功率损耗。图3显示了待测试的电路板,其中需要内部输入电容“X”以进行功率损耗测试。图中所示模块为申请人(国际整流器...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。