技术编号:6109756
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及非侵入式扫描领i^,具体涉及确定目标或者目标的 一部分或多个部分的平均原子序数和质量的系统和方法,以及获得 对出现在目标或者目标的一部分或多个部分中的某些元素的质量的 限制的系统和方法。背景技术用于检查目标的非侵入式检查技术的期望特征是快速确定目标 材料的原子序数(Z)和密度的能力,以及原子序数和密度的空间分 布。尤其是,优选地在低辐射剂量的情况下,平均原子序数和/或质 量的三维分布的快速确定是确定目标容器的内容的强大而有用的手 段。这个信息可用...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。