技术编号：6110006
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本说明涉及测试集成电路和电才莫块的领域，更具体地说，涉及使 用标准大容量可重新配置组件的4氐成本测试系统。背景技术集成电路(IC)和电模块通常在发布销售之前要进行测试。在正 常的半导体生产工艺中，每一个IC都要测试有无故障。诊断测试也常需进行，以使生产中的系统误差可得到补救。测试设备大而昂贵，而 且必须对每个新产品编程和电配置。对于许多产品，需要一台测试设备在IC尚未通电时对其进行测试。需要另一台测试设备在IC已通电 但尚未运行时对其进行测试，并且还需要第...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。