技术编号：6111275
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种利用外差干涉法对激光波长进行测量的方法及装置，属于激光测量。背景技术 激光波长测量系统可用于测量可调谐激光器的输出波长值，或标定未知激光的波长值。在光学测量中，激光干涉技术由其非接触、高速及可溯源等优点得到广泛应用。可调波长激光由于波长可调，可以产生需要的合成波长链，因此在绝对距离干涉测量(无导轨测长)系统中得到广泛应用。但是可调波长激光(例如可调半导体激光)由于无法锁定到自然基准，所以必须采用激光波长测量系统测量出可调波长激光的波长值。该激...
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