探测器阵列及设备的制作方法技术资料下载

技术编号:6111290

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本发明涉及用于物体辐射透视成像的探测器,特别涉及一种探测器阵列和使用该探测器阵列的设备,以消除利用交替产生的射线检查被检物体的过程中出现的边缘处对物体材料的错误识别和识别不准确问题,并可以加倍提高扫描检查效率。背景技术随着海关和安全检查系统要求的不断提高,利用两种不同能量的X射线对被检物体进行无损检查,同时实现对被检物体的物质材料识别的技术已经开始被广泛推广,如美国专利US 5,044,002。最近,在大型客体的无损检测中,在高能段(>1MeV)的双能法来...
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