技术编号:6111718
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学测试,是一种适用于光学材料的。背景技术 在光学器件的制造中,为了使光学零件符合一定的光路要求,需要将使用的光学材料及制作光学零件的折射率控制在一定的范围内,因此必须对其折射率进行精确的测量。测量光学材料折射率的仪器有阿贝折射率仪、V棱镜折光仪、最小偏角法折射率仪和干涉测量仪。这些检测仪测量精度的高低各有不同,其中V棱镜折光仪是通过平行光系统经过V形棱镜和被测件后成像,并利用望远瞄准系统可以对所成的像用人眼进行瞄准,然后从读数系统的目镜中用人眼...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。