技术编号:6111830
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明用于光学物理试验和精密测量领域。背景技术使用现有迈克尔逊干涉仪进行光学物理实验和精密测量时存在如下问题1.所用单色(或准单色)光源(如钠光、He-Ne激光、半导体激光等)游离在迈克尔逊干涉仪之外,使用时临时配置,操作不便;2.由于光源没有固定,有时会因自己或旁人不小心触碰发光器而导致所有调节前功尽弃;3.通常在调节干涉现象时是以观察屏上的两个光斑重合来判断反射镜1和反射镜2相互垂直的,即反射镜1和反射镜2对于分光镜的镜像相互平行,这只有当反射镜1和反...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。