技术编号:6112389
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种能够单次定标的二阶单发自相关测量仪,能够同时测量二维信息(一维为脉冲自相关函数时间宽度,一维为该宽度在空间上的分布),并利用此特性实现单次定标,用于飞秒~皮秒的超短脉冲激光的单次测量及这种激光波前不同位置的脉宽信息测量。背景技术随着超短脉冲激光的发展,超短激光脉冲的测量成为一种经常使用的测量措施。其中对放大后的脉冲进行测量时,由于放大脉冲相对于振荡级脉冲而言,脉冲强度和脉宽波动较大,所以通常使用二阶单发自相关测量仪。在先技术中二阶单发自相关...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。