技术编号:6113914
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及,属于采用电子散斑干涉测量物体变形二维分量的。背景技术电子散斑干涉测量技术可以精确测量物体的变形场,具有精度高、非接触、对隔震要求低等优点,在物体的静、动态测量中得到广泛应用。但目前典型的电子散斑干涉技术只能测量物体的一维变形。由于物体的变形是三维的,常常需要测量物体的二维或三维变形分量。但在已有的研究成果中,单光束照明的电子散斑干涉只能获得离面位移场或者混合场,不能测量物体的二维或三维变形分量。物体的二维位移分量的测量,其实验系统往往比较复杂,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。