技术编号：6114443
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路测试技术，特别是对具有多扫描链的超大规模集成电路的内建自测试(Built-In Self-Test)方法中测试数据压缩方法。背景技术集成电路技术的发展使得可在一个芯片中集成数以亿计的器件，并且可以集成预先设计和经过验证的IP芯核，如存储器核，微处理器核，DSP核等。这种多元化的集成芯片已经成为能处理各种信息的集成系统，被称为片上系统或系统芯片SOC。SOC大大降低了系统成本，缩短了设计周期，加快了产品上市时间，但是SOC产品的测试面临越来...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。