技术编号:6115546
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及非接触连续测量超导线/带材各部分n指数均匀性的测量方法和装置。背景技术 零电阻现象是超导体最重要的属性之一。描述实用超导体尤其是高温超导体的电磁特性,除了临界电流特性、电磁特性(各向异性)、机械特性等外,临界电流和n指数的均匀性也是实用超导材料的重要特性。一般情况下,描述超导体的模型有两个理想电流电压超导电性模型(1)和实际超导材料的幂指数模型(2)。E=0I≤Ic∞I>Ic---(1)]]>E=Ec...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。