技术编号:6116009
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量装置,特别涉及。背景技术纳米颗粒是指粒度介于I-IOOnm的超细颗粒,由于其特有的光、磁、电、热和催化等性质,使其在催化、滤光、光吸收、医药、磁介质及新材料等方面有着广阔的应用前景。纳米颗粒的粒度直接影响着其各种性质,因此纳米颗粒的测量技术是纳米科技得以发展的必要条件。DLS (Dynamic Light Scattering,动态光散射)纳米颗粒测量中,光子相关光谱法(Photon Correlation Spectroscopy, P...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。