用于检测物理量、特别是磁场的薄膜器件及相应检测方法技术资料下载

技术编号:6116070

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本发明涉及一种用于检测物理量、尤其是用于检测磁场的、包括包含一个或多个敏感元件的电路的类型的薄膜器件,所述器件被设计用于改变它自己的电阻作为要被检测的物理量的函数,所述一个或多个敏感元件包括至少一个纳米收缩(nanoconstriction),所述纳米收缩包括由磁性材料、尤其是铁磁性材料制成的至少两个垫片,与其相关联的是取向于彼此基本相反的方向并通过纳米通道被连接的相应磁化,所述纳米通道能够建立畴壁,其确定所述纳米收缩的电阻作为相对于形成在所述传感器件内的...
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